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【PCB檢測小知識】
不過隨著科技的演進，電路板的尺寸也越來越小，小小地電路板上面光要擠下這么多的電子零件都已經有些吃力了，所以測試點占用電路板空間的問題，經常在設計端與制造端之間拔河，不過這個議題等以后有機會再來談。測試點的外觀通常是圓形，因為探針也是圓形，比較好生產，也比較容易讓相鄰探針靠得近一點，這樣才可以增加針床的植針密度。
1.使用針床來做電路測試會有一些機構上的先天上限制，比如說：探針的*小直徑有一定極限，太小直徑的針容易折斷毀損。
2.針間距離也有一定限制，因為每一根針都要從一個孔出來，而且每根針的后端都還要再焊接一條扁平電纜，如果相鄰的孔太小，除了針與針之間會有接觸短路的問題，扁平電纜的干涉也是一大問題。
3.某些高零件的旁邊無法植針。如果探針距離高零件太近就會有碰撞高零件造成損傷的風險，另外因為零件較高，通常還要在測試治具針床座上開孔避開，也間接造成無法植針。電路板上越來越難容納的下所有零件的測試點。
4.由于板子越來越小，測試點多寡的存廢屢屢被拿出來討論，現在已經有了一些減少測試點的方法出現，如Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG等；也有其它的測試方法想要取代原本的針床測試，如AOI、X-Ray，但目前每個測試似乎都還無法100%取代ICT。關于ICT的植針能力應該要詢問配合的治具廠商，也就是測試點的*小直徑及相鄰測試點的*小距離，通常多會有一個希望的*小值與能力可以達成的*小值，但有規模的廠商會要求*小測試點與*小測試點間距離不可以超過多少點，否則治具還容易毀損。
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