跌落試驗通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。
跌落試驗對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機, MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。
[跌落試驗業(yè)務(wù)范圍]
1. 計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等跌落試驗
2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等跌落試驗。
3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備跌落試驗；
4.其他：包裝箱、運輸設(shè)備等跌落試驗。
[跌落測試參考標(biāo)準(zhǔn)]
GB/T 2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB/T4857.5等。
[一通檢測跌落試驗優(yōu)勢]
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