跌落試驗通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應以產品規格或客戶測試規范來決定）。
跌落試驗對于不同國際規范即使產品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產品(如手機, MP3等)大多數掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數、跌落方向。
[跌落試驗業務范圍]
1. 計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫療設備等精密儀器等跌落試驗
2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等跌落試驗。
3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備跌落試驗；
4.其他：包裝箱、運輸設備等跌落試驗。
[跌落測試參考標準]
GB/T 2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB/T4857.5等。
[一通檢測跌落試驗優勢]
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