C-SAM超聲掃描檢測： 聯系 186 6582 7199
C-SAM檢測主要使用于封裝內部結構的分析,因為它能提供IC封裝因水氣或熱能所造成破壞分析,例如裂縫、空洞和脫層；C-SAM內部造影原理為電能經由聚焦轉換鏡產生超聲波觸擊在待測物品上,將聲波在不同接口上反射或穿透訊號接收后影像處理,再以影像及訊號加以分析.其主要是針對半導體器件 ,芯片,材料內部的失效分析．其可以檢查到:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒．夾雜物．沉淀物．2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.
近年來,超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)已被成功地應用在電子工業,尤其是封裝技術研究及實驗室之中.由于超音波具有不用拆除組件外部封裝之非破壞性檢測能力,故C-SAM可以有效的檢出IC構裝中因水氣或熱能所造成的破壞如﹕脫層、氣孔及裂縫…等. 超聲波在行經介質時,若遇到不同密度或彈性系數之物質時,即會產生反射回波.而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異.C-SAM即*利用此特性來檢出材料內部的缺陷并依所接收之訊號變化將之成像.因此,只要被檢測的IC上表面或內部芯片構裝材料的接口有脫層、氣孔、裂縫…等缺陷時,即可由C-SAM影像得知缺陷之相對位置.
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