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深圳市中天檢測技術有限公司
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表面異物分析
在生產使用過程中，產品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無法了解其成分與來源，必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數從10倍-20萬倍的掃描電子顯微鏡和對固體樣品元素價態分析的X射線光電子能譜，可以分別對不同現象和類別的異物進行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對材料微觀形貌進行直接觀測，同時對微小區域進行X射線能譜測試，分析其成分組成，X射線光電子能譜能夠對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析，廣泛應用于元素分析、多相研究、化合物結果鑒定、富集法微量元素分析、元素價態鑒定等。
主要分析儀器：
顯微/傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)、X射線光電子能譜儀(XPS)、二次離子質譜(SIMS)、X射線衍射儀(XRD)等。
主要測試項目：
無機異物分析
有機異物分析
異物源頭判定 |
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