捷歐路掃描電鏡(SEM)IT-100
使用多點觸摸屏，操作舒適:
桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100通過多點觸控技術和*新的操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發的操作界面簡明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像，進行EDS元素分析。
標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡
標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的*新EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。
EDS能譜分析:
JSM-IT100可擴展EDS分析功能，并為多種探測器預留接口。InTouchScope觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且耐用，能夠很好的滿足不同實驗室的需求。它能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列加速電壓。
利用IT100掃描電鏡，能夠輕松快速獲取高質量的的二次電子和背散射電子像。采用硅漂移探測技術的嵌入式JEOL EDS系統，具有面分布分析、多點分析、自動漂移補償、線掃描、Partial area和Mapping Filter等功能。
掃描電子顯微鏡表面分析儀優點:
①有較高的放大倍數，幾萬~幾十萬倍之間連續可調；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
鎢燈絲掃描電子顯微鏡 核心參數
背散射電子圖像分辨率 4nm
二次電子圖象分辨率 3nm@30KV
加速電壓 0.5-30kV
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