德國菲希爾XDLM/XULM/XDVM/XUL膜厚儀能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定*多5層、15 種元素。
1：精確度領先于世界，精確到0。025mil (相對與標準片)
2：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
3：如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
4：可測量任一測量點，*小可達0.025 x 0.051毫米Fischer--XDL,XUL熒光鍍層測厚儀---(應用于PCB業/五金端子業低樣品屬于低樣品臺)
XDLM,XDVM X-熒光鍍層厚度測量儀---(五金類大工件電鍍測量,屬于高樣品臺)
XDLM XULM X射線鍍層測厚儀---(對于測量PCB/電鍍業特別對測薄金達到同行業前所未有的高精度) 秉承著高效創新,誠信服務的理念,致力于國內外優良品管測量儀器的推廣應用，這些儀器廣泛應用于電子、五金、模具、端子、連接器、 菲希爾接收器等等電鍍產品的鍍層測量�！ �
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