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供應(yīng)C-SAM掃描，超聲波掃描測(cè)試，二極管，三極管，覆銅板無(wú)損檢測(cè)

供應(yīng)C-SAM掃描，超聲波掃描測(cè)試，二極管，三極管，覆銅板無(wú)損檢測(cè)_深圳市美信檢測(cè)技術(shù)股份有限公司上海分公司_供應(yīng)C-SAM掃描，超聲波掃描測(cè)試，二極管，三極管，覆銅板無(wú)損檢測(cè)

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公　司：深圳市美信檢測(cè)技術(shù)股份有限公司上海分公司

發(fā)布時(shí)間：2016年10月11日

有效期：2017年04月12日

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胡吉祥先生 (銷售工程師)

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公司主頁(yè)：	http://z123poi.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細(xì)說(shuō)明

無(wú)損結(jié)構(gòu)分析
目的：
通過(guò)不破壞產(chǎn)品或零部件結(jié)構(gòu)的方式，觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、判斷可能的失效模式，大多數(shù)樣品測(cè)試后還可以繼續(xù)使用。

常用的無(wú)損檢測(cè)手段：
項(xiàng)目名稱
用途
X射線透視檢查
金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測(cè)
超聲波掃描檢查
電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷
滲透探傷檢查
焊縫、管材表面裂紋、針孔等缺陷檢查
磁粉探傷檢查
鐵磁性材料表面裂紋、針孔等缺陷檢查
超聲波檢查
超聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡(jiǎn)稱，又稱為SAM (Scanning Acoustic Microscope)。此檢測(cè)為應(yīng)用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來(lái)進(jìn)行分析。
原理：
利用純水當(dāng)介質(zhì)傳輸超聲波信號(hào)，當(dāng)訊號(hào)遇到不同材料的界面時(shí)會(huì)部分反射及穿透，此種發(fā)射回波強(qiáng)度會(huì)因?yàn)椴牧厦芏炔煌兴町悾瑨呙杪晫W(xué)顯微鏡就是利用此特性，來(lái)檢驗(yàn)材料內(nèi)部的缺陷并依所接收的信號(hào)變化將之成像。
檢測(cè)項(xiàng)目：
1.一般用于封裝內(nèi)部介面是否有分層(Delaminaiton) 或裂縫(Crack)，SAM原理上可以檢測(cè)到0.13 μm的微小缺陷。
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常用的幾種模式及圖解：
A-scan (超聲波信號(hào))
B-scan (二維反射式剖面檢測(cè)/圖像)
C-scan (二維反射式平面檢測(cè)/圖像)
Through-scan (穿透式檢測(cè)/ 圖像)

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