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供應XJTUMicro顯微數字圖形相關法全場應變測量分析系統

供應XJTUMicro顯微數字圖形相關法全場應變測量分析系統_蘇州西博三維科技有限公司_供應XJTUMicro顯微數字圖形相關法全場應變測量分析系統

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公　司：蘇州西博三維科技有限公司

發布時間：2018年11月26日

有效期：2019年05月28日

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XJTUMicro顯微數字圖形相關法全場應變測量分析系統是在XJTUDIC三維數字散斑動態應變測量分析系統基礎上開發出來的對于微米級和納米級試件進行全場應變測量。
顯微視覺中的顯微立體視覺能夠實現立體成像功能，近年來越來越受到重視，在微操作、微裝配、微注射、微測量等領域得到了廣泛的應用。顯微立體視覺系統不同于宏觀立體視覺系統的顯著特點就是在成像過程中加入了放大環節，因此，顯微鏡是實現顯微立體視覺系統不可或缺的組成部分。掃描電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope，SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特點，是這一領域應用較多的一種顯微鏡，但其不足之處是操作復雜且設備昂貴。相對于掃描電子顯微鏡，體視顯微鏡 (Stereo Light Microscope，SLM)在這方面的應用相對少些。SLM具有工作空間大、工作距離大、便于微觀對象的操作、非接觸式觀測、對微觀對象無損傷和實時性好等優點，它的應用日益廣泛。

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