HP4155A HP4155B半導體參數分析儀
HP4155B詳細說明：
HP4145B半導體參數分析儀設計用于半導體的生產線和實驗室，HP4145B是電子工業中*一個可以獨立對半導體器件和材料進行直流參數的儀器。HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結果顯示在內置的CRT顯示器上，結果可根據用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
主要特點及優點：
在350μs之內就可以完成接觸檢測驗證與報告，有利于保持高速生產效率
可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠程控制接觸檢測操作
內置的“源存儲器”可編程序列發生器最多可存儲100個不同的測試，以滿足高速生產的需要
高達75000小時MTBF的可靠性設計，為不中斷生產環境提供了良好的可靠性
內置的比較器簡化了pass/fail測試
數字I/O支持快速鍵合或連接到元件機械手
0.012%的精確度，5?的分辨率
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深圳市方豐瑞儀器設備有限公司
地址：深圳市寶安區沙井雅居園B棟1101
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