EMI項(xiàng)目:
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3m/10m 開放式測(cè)試場(chǎng)(Radiated Test) CISPR 16/CISPR 22/EN 55022/GB 9254等
 半電波暗室(EMI Pretest) CISPR 16/CISPR 22/EN 55022/GB 9254等
電波隔離室(Conducted / Power Clamp Test) CISPR 16
磁場(chǎng)輻射測(cè)試室(lighting devices Test) CISPR 15/EN 55015/GB 17743等
 電源傳導(dǎo)測(cè)試室(Conducted disturbance)CISPR 16/13/14/15/22/25 EN 55011/13/14/15/22/25等
 超低頻輻射測(cè)試室(LR/TCO Test) CISPR 11/EN 55011/GB 4824等
 電磁干擾修改室(EMI Debug) CISPR 11/EN 55011/GB 4824等
 功率輻射測(cè)試室(POWER CLAMP)CISPR 13/14 EN 55013/14 GB 13837 GB 4343.1
 EMS項(xiàng)目:
 靜電放電測(cè)試室(ESD Test) IEC 61000-4-2/EN 61000-4-2/GB 17626.2等
 全電波暗室(RS Test) IEC 61000-4-3/EN 61000-4-3/GB 17626.3等
 快速脈沖群(EFT Test) IEC 61000-4-4/EN 61000-4-4/GB 17626.4等
 雷擊測(cè)試室(Surge Test) IEC 61000-4-5/EN 61000-4-5/GB 17626.5等
傳導(dǎo)耐受測(cè)試室 CS Test) IEC 61000-4-6/EN 61000-4-6/GB 17626.6等
 磁場(chǎng)耐受測(cè)試室(Magnetic immunity test)IEC61000-4-8/EN61000-4-8/GB17626.8等
 電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化: IEC61000-4-11/EN61000-4-11/GB17626.11等
 交流電源端口諧波、諧間波: IEC 61000-4-13/EN61000-4-13/GB17626.13等
 電源諧波(Harmonics Test) IEC 61000-3-2/EN 61000-3-2/GB 17625.1等
 電壓變動(dòng)(Flickers Test) IEC 61000-3-3/EN 61000-3-3/GB 17625.2等
 安規(guī)測(cè)試室（Safety Test）
 主要設(shè)備購(gòu)自世界頂堅(jiān)儀器廠商德國(guó) R&S、瑞士EMTEST、美國(guó)AR、瑞士HAEFELY, 瑞士TESEQ等。由儀器廠商原廠安裝、調(diào)試和CNAS校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)、滿足自動(dòng)化、智能化測(cè)試的要求，可自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)打印、自動(dòng)校準(zhǔn)、并具備升級(jí)和擴(kuò)展的能力。配置的主要測(cè)試系統(tǒng)有：騷擾功率/傳導(dǎo)騷擾電壓自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，照明設(shè)備/家用電器EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，GSM、CDMA模擬基站/EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，功率放大系統(tǒng)，諧波/電壓波動(dòng)和閃爍測(cè)試系統(tǒng)，靜電放電抗擾度、電塊速瞬變脈沖群抗擾度、浪涌抗擾度 |
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