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上海劑拓材料科技有限公司
聯(lián)系人:周工
先生 (經(jīng)理) |
電 話:021-20423181 |
手 機(jī):18321012245 |
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粒徑_形貌_表觀_測(cè)試_檢測(cè) |
形貌及粒徑分布是材料尤其是納米材料分析的重要組成部分,劑拓材料科技有限公司為您提供專(zhuān)業(yè)高效的納米材料的幾何形貌,材料的顆粒度及粒徑分布方面的分析測(cè)試服務(wù)。
測(cè)試方法:根據(jù)待測(cè)物質(zhì)的性質(zhì)不同,我們會(huì)為您提供專(zhuān)業(yè)的成分分析測(cè)試方案,主要的測(cè)試方法如下:
測(cè)試方法 適用條件
掃描電子顯微鏡(SEM)/場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 材料,粉體,礦物粒徑大小,表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。要求樣品導(dǎo)電,或噴碳或者噴金處理。
結(jié)合EDS進(jìn)行元素定性分析。
透射電鏡(TEM) 透射電鏡可以表征樣品的質(zhì)厚襯度,也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。投射電鏡的分辨率比掃描電鏡要高一些。
投射電鏡優(yōu)點(diǎn):獲得高倍放大倍數(shù)的電子圖像;得到電子衍射花樣。
掃描隧道顯微鏡(STM) 掃描隧道顯微鏡作為一種掃描探針顯微術(shù)工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子,它具有比它的同類(lèi)原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針*端
原子力顯微鏡(AFM) AFM提供真正的三維表面圖。同時(shí),AFM不需要對(duì)樣品的任何特殊處理。電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下,原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來(lái)研究生物宏觀分子,甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)相比,由于能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品,因此具有更為廣泛的適用性。
樣品要求:
根據(jù)不同測(cè)試方法具體給出。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
ASTM E1056-2013 Standard Practice for Installation and Service of
GB/T 18907-2013微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
報(bào)告內(nèi)容
原始圖譜,原始數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分析
常規(guī)圖譜
專(zhuān)業(yè)、高效、精準(zhǔn)、高性價(jià)比是劑拓公司的服務(wù)宗旨。 |
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