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長(zhǎng)春市博盛量子科技產(chǎn)品貿(mào)易有限公司
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| QE65000科研級(jí)的光譜儀 |
量子效率高達(dá)90％
QE65000型科研級(jí)光譜儀是我們研發(fā)的產(chǎn)品中最靈敏的光譜儀，其量子效率（其定義是光子轉(zhuǎn)變成光電子的效率）可以達(dá)到90％。
QE65000型科研級(jí)別光譜儀含有一個(gè)對(duì)紫外線感應(yīng)能力超強(qiáng)的日本濱松出品的薄型背照式（Back-thinned）探測(cè)器。它的二維像素排列（水平1044像素×垂直64像素）可以響應(yīng)波長(zhǎng)范圍為200～1100nm的光信號(hào)。特定的光譜范圍和解析度是由用戶(hù)的光柵和入射光狹縫的選擇來(lái)決定的。探測(cè)器的象素列在數(shù)據(jù)輸出前就累加的，這樣可以使采集數(shù)據(jù)的噪聲最小化。
用所包含的熱電制冷器，檢測(cè)器可以被冷卻到零下20℃，以減少暗噪聲。噪聲和暗信號(hào)的減少可以使光譜儀的積分時(shí)間達(dá)到15分鐘，并因此大大提高低亮度級(jí)別測(cè)試時(shí)的檢測(cè)極限。
光譜儀的低噪聲檢測(cè)器與16位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器使得動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到25000:1，信噪比大于1000:1。
更高的系統(tǒng)靈敏度
由于二維檢測(cè)器使光譜儀能很好地利用入射光狹縫的高度，QE65000型科研級(jí)光譜儀的靈敏度得到了一定的提高。在我們生產(chǎn)的其它光譜儀中，光進(jìn)入光具座是通過(guò)入射光狹縫的寬度來(lái)調(diào)節(jié)的；狹縫的高度是沒(méi)有影響的，因?yàn)榫�性檢測(cè)器不能有效地收集狹縫的整個(gè)高度的光。而使用QE65000型科研級(jí)光譜儀的二維檢測(cè)器，我們就可以更好地利用來(lái)自高度方向的額外的光信號(hào)。
優(yōu)異的紫外光響應(yīng)能力
QE65000型科研級(jí)別光譜儀的薄型背照式（Back-thinned）探測(cè)器對(duì)紫外線具有優(yōu)異的響應(yīng)能力，并且不需要外加涂層來(lái)提高其性能。
滿(mǎn)足低亮度級(jí)別應(yīng)用的條件
QE65000型科研級(jí)光譜儀是一個(gè)適合在低亮度應(yīng)用的極好選擇，包括在熒光、拉曼光譜、DNA測(cè)序、天文學(xué)和薄膜反射等各個(gè)方面。用戶(hù)可以根據(jù)需要，將光譜儀的積分時(shí)間（類(lèi)似于照相機(jī)的快門(mén)速度）設(shè)置成8ms～15min內(nèi)的數(shù)值，而不會(huì)產(chǎn)生光學(xué)失真。下面是一個(gè)利用QE65000型科研級(jí)光譜儀、CUV-ALL 四方式比色皿架 、和PX-2型氙光源進(jìn)行熒光分析的實(shí)例。特別說(shuō)明：為了對(duì)PX-2型氙光源進(jìn)行外部觸發(fā)操作，還需要HR4-BREAKOUT外接盒。 |
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