供應美國Calmetrics (鈀-鎳/Pd-Ni)鍍層標準片
品牌： Calmetrics 產地：美國
美國CalMetics一系列標準片(standard)，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，都是美國原廠制作標準片的專業認證公司。
美國Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。
特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好
X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片
X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書），美國Calmetrics公司是專業生產X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片及RoHS標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。
可以提供X射線測厚儀標準片之外，還可以提供β射線測厚儀和庫倫測厚儀標準片及庫侖測厚儀的標準測試藥水。并有X射線測厚儀、β射線測厚儀、磁感應測厚儀、渦電流測厚儀、庫侖測厚儀等出售。
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
我司在中國地區代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀,美國Thermo第二代 光學準直器X熒光測量儀及CMI900 X射線鍍層測量儀。此兩種儀器主要用于涂鍍層厚
度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。
鍍層標準片（可提供特別訂制）：
鈀-鎳(Pd-Ni) 3種型號
SPDNI30-80 Pd-Ni/XX 30u” (0.75um) 80%Pd
SPDNI80-80 Pd-Ni/XX 80u” (2.0um) 80%Pd
SPDNI120-80 Pd-Ni/XX 120u”(3.0um) 80%Pd
十多年來，奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和*優質的服務都得到客戶*高的獎勵，在未來,我們將繼續履行客戶的期望、要求和需要。
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