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陜西博微電通科技有限責任公司
聯系人:武先生
先生 (產品經理) |
電 話:029-33197397 |
手 機:15353786259  |
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BW-4022A半導體分立器件測試系統 |
一、產品介紹:
BW-4022A 晶體管直流參數測試機是新一代針對半導體器件測試系統,經過我公司多次升級與產品迭代,目前測試性能、精度、測試范圍及產品穩定度得到大幅提升,成為半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、研發分析、產品選型等重要檢測設備之一。
BW-4022A 晶體管直流參數測試機大規模 32 位 ARM&MCU 設計, PC 中文操作界面,高壓源 2500V:選配 1.4KV-- 2KV,高流源 500A :選配 40A、100A、200A、300A 及以上。程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調用式菜單操作界面,測試界面簡潔靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,只需要根據不同器件更換測試座配合系統自適應測試設置可完成大多數電子元件的靜態參數參數, 系統內部配置因線路、接觸性、及 EMC 引起的干擾進行自動補償,確保測試結果準確度;針對 Si/SiC/GaN 材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR 等高精度靜態參數包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數進行精確測試。
可對常見的 SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN 等封裝進行直接配置測試,對特殊封裝夾具進行定制,通過 Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試,測試數據可在線存貯、導出,
二、服務領域與應用場景:
產品特點:
▶ 客戶端PC、工控機均可程控測試機進行測試
▶ 菜單調用式測試程序亦可編輯軟件操作簡便、人機界面友好
▶ 針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態參數測試
▶ 系統基于 Lab VIEW 平臺開發
▶ 自動識別器件極性、 NPN/PNP
▶16 位 ADC,1M/S 采樣速率;
▶高壓源 2500V:選配1.4KV-- 2KV
▶高流源500A :選配 40A、100A、200A、300A及以上
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