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廣州廣電計量檢測股份有限公司
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手 機(jī)：13808840060  |
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| 集成電路芯片篩選測試，量產(chǎn)測試【廣電計量檢測】 |
芯片集成電路量產(chǎn)測試與篩選覆蓋：
時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;
芯片量產(chǎn)測試功能驗證測試
目前芯片F(xiàn)T測試主要用到ATE測試系統(tǒng)，包括軟件和測試設(shè)備、測試硬件。ATE是Automatic Test Equipment的縮寫， 于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動測試機(jī)， 用于檢測集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之*后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
ATE測試程序主要測試項目如下：
Open/Short test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。
Function test: 測試芯片的邏輯功能。
DC test: 驗證器件直流電流和電壓參數(shù)。
AC test: 驗證交流規(guī)格，包括交流輸出信號的質(zhì)量和信號時序參數(shù)。
Eflash test: 測試內(nèi)嵌flash的功能及性能，包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數(shù)。
Mixed Signal test: 驗證DUT數(shù)模混合電路的功能及性能參數(shù)。
RF test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數(shù)。
軍工芯片（集成電路）篩選
軍工集成電路的篩選方法與程序主要依據(jù)GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用微電子器件的環(huán)境、機(jī)械、電氣試驗方法和試驗程序，以及為保證微電子器件滿足預(yù)定用途所要求的質(zhì)量和可靠性而必須的控制和限制措施。
GJB 548B-2005標(biāo)準(zhǔn)適用于軍及空間應(yīng)用的微電子器件。如果承制方標(biāo)明或聲稱其半導(dǎo)體集成電路符合本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，則必須滿足方法 5004、5005 或5010（對復(fù)雜微電路）的要求，混合集成電路應(yīng)滿足GJB 2438的要求，同時應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)的一般要求和所引用的其他試驗方法的要求，而且產(chǎn)品規(guī)范應(yīng)經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)確認(rèn)。 |
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