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Microchip（原Microsemi）TSC5120A相位噪聲測試儀

詳細(xì)說明

美高森美Microsemi（原Symmetricom）5120A相噪和阿倫Allan方差測試儀

相噪和阿倫方差的精確測量從來都不是容易且低成本的。傳統(tǒng)的測量工具需要一個外部的鎖相環(huán)，這樣就使得測量手段相對復(fù)雜和昂貴化。5120A只需您輕點(diǎn)一下按鈕，就可以提供精確快速的相噪和阿倫方差測量值，從而大大的提高了方案的簡便性和性價比。

Microsemi（原Symmetricom）公司制造的5120A是目前世界上*容易使用的相噪和阿倫方差測試工具：只需將被測源和參考源連接在5120A上并點(diǎn)擊“開始”按鈕，幾秒鐘后有效的測量數(shù)據(jù)就會出現(xiàn)在設(shè)備自帶的高分辨率顯示屏上。另外，您不需要進(jìn)行乏味的多步驟設(shè)置和校準(zhǔn)。

5120A是從Symmetricom之前的相噪和阿倫方差測試領(lǐng)域的產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)5110A發(fā)展而來，除了擁有標(biāo)準(zhǔn)的測量性能外，新一代5115A提供的相噪值測量結(jié)果幾乎達(dá)到了一個精確到極限的精度（±1.0 dB）。

Microsemi（原Symmetricom）的相噪和阿倫方差測量設(shè)備的制作工藝近年來有著高速的發(fā)展，并成功地將之前該領(lǐng)域的多次測量方法轉(zhuǎn)變成簡單的一體化解決方案。這使得5120A在節(jié)省成本的前提下得出更為精確的測量結(jié)果。

為進(jìn)一步方便使用，Symmetricom公司替5120A增加了一個內(nèi)部振蕩器的選項(xiàng)，即5120A-01，這就省去了您再單獨(dú)采購和標(biāo)定一個外部參考源的成本。擁有5120A-01，您只需要接入被測源與設(shè)備自帶的參考源做比對，就可以得出精確的測量值。

5120A帶來的是相噪和阿倫方差測量領(lǐng)域的一個思維模式的轉(zhuǎn)變。擁有5115A，過去在研發(fā)和生產(chǎn)中昂貴復(fù)雜的測量方案將變得更簡潔，更快速，更精確而且低成本。

全數(shù)字一體化測試設(shè)備的好處：5120A將復(fù)雜的時頻工藝融合成一個簡單先進(jìn)包含Symmetricom專利算法的測量儀。在上面的5115A框架圖上，正要通過5115A的被測設(shè)備和參考源立刻就會轉(zhuǎn)變成各自的數(shù)字形態(tài)。這使得5115A無需外部的鎖相環(huán)和其他的校準(zhǔn)機(jī)制。此外，5115A不需要參考源的頻率同被測設(shè)備一樣。

互相關(guān)技術(shù)的好處：從上方的框架圖可以看出，5120A采用了創(chuàng)新的互相關(guān)技術(shù)。在取得同時觀察值得同時，5120A交叉關(guān)聯(lián)了兩個通道的離散傅里葉變換，一方面用來估算輸入設(shè)備的噪聲，另一方面去掉了兩個測量子系統(tǒng)本身的噪聲。這就使得*終的測量結(jié)果比一般的單通道設(shè)備精確的多。

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