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廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司
| 聯(lián)系人：張海鵬
先生 (電子商務(wù)經(jīng)理) |
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手 機(jī)：18620908348  |
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| 【失效分析-集成電路試驗(yàn)室】超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試 |
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試
在半導(dǎo)體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致集成電路更高的缺陷密度。廣電計(jì)量提供超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試技術(shù)服務(wù)，協(xié)助客戶保證及提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量的一致性。
分析對象
處理器、存儲器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。
試驗(yàn)項(xiàng)目：
一、超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉
通過對大規(guī)模集成電路施加持定測試向量（有效測試向量）.激勵內(nèi)在缺陷和錯誤形成響應(yīng)，并通過電應(yīng)力和熱應(yīng)力的加速，在短時間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試手段予以易除，以達(dá)到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。
技術(shù)能力
信號頻率∶100MHZ；
系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū)；
I/O通道數(shù)∶128路；
試驗(yàn)溫度∶-10℃～+125℃
向量編程深度32M
二、超大規(guī)模集成電路測試
超大規(guī)模集成電路測試是確定或評估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控生產(chǎn)、保證·質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重裝手段。特別在集成電路生產(chǎn)后期和使用前期不良率驗(yàn)證過程中，采用適當(dāng)?shù)?#039;測試向量和全自動化的測試設(shè)備，可全面快速地識別不良產(chǎn)品，提高產(chǎn)品的交付可靠性。
技術(shù)能力
能進(jìn)行動態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；
能進(jìn)行常溫測試、低溫測試、高溫測試，溫度范圍∶-55℃～+150℃（土2℃）；
信號頻率∶≥200MHz，可升級；
I/O通道數(shù)∶512路；
廣電計(jì)量檢測集成電路測試、分析能力：
可靠性驗(yàn)證(RA)：
芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113；
高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103；
溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104；
溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101；
高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108；
靜電測試(ESD)：
人體放電模式測試(HBM),JS001；
元器件充放電模式測試(CDM),JS002；
閂鎖測試(LU),JESD78；
TLP；Surge/EOS/EFT；
失效分析(FA)：
光學(xué)檢查(VI/OM)；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH；
Micro-probe;
廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能 |
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