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深圳圓融達微電子技術有限公司
| 聯系人：謝林
先生 (業務員) |
| 電 話：0755-33127975 |
| 手 機：13418498203 |
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| QFN48IC測試老化座 下壓老化座 探針老化座 |
產品特性：
采用單扣/雙扣式旋鈕結構，下壓平穩，保證IC的壓力均勻，不偏移;
  壓塊結構合理，下壓速度線性可控,下壓力度平穩均衡，芯片管殼受力均勻保證安全；
  精確的定位槽、導向孔,確保IC定位精確；
整體采用高性能耐高溫絕緣工程材料制作，可根據客戶要求、滿足24H/48H/72H老化測試測試電流*高可達10 A，電壓220V/380V，可滿足：濕度90%,及軍工三溫：- 45攝氏度/常溫/+150度的溫差等惡劣老化測試環境;
  探針的爪頭呈凹圓弧型,有效承托錫球，既可以保證接觸性能穩定又能保護錫球和焊盤外形；
雙頭探針或單頭焊接式探針結構，保證探針和PCB板接觸良好;
  探針更換方便，維修成本低;
*小可做到測試間距：
雙頭探針：Pitch=0.25mm
單頭焊接：Pitch= 0.5 mm
可根據用戶要求定做各種陣列的集成電路產品老化驗證測試;Socket;
交貨速度快 ，*快3天出貨！工廠直銷！品質保證！
產品用途：集成電路產品老化驗證測試 |
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