精密低阻測(cè)量
在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的微小差別。1kHz測(cè)試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測(cè)試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的*方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?
高速測(cè)量
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到*低限度。
自動(dòng)測(cè)量方式
在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。
技術(shù)指標(biāo)
(全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)
測(cè)量功能
測(cè)量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)
測(cè)試信號(hào)特性
測(cè)試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1%
測(cè)試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±(10%＋0.2μA)
樣品兩端的*大電壓：在任何情況下*大為20mV峰值
測(cè)量范圍
參數(shù) 測(cè)量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~＋180°(典型值)
測(cè)量精度：R的基本精度為±0.4%
測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測(cè)量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔
模式 時(shí)間(典型值)
短 34ms
中等 70ms
長(zhǎng) 900ms
修正功能
短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生阻抗引的測(cè)量誤差
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