X射線檢測_γ射線檢測_射線探傷檢測
X射線探傷
利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同,檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。
超聲波探傷
超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法,當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來,在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。
磁粉探傷
磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當(dāng)工件磁化時(shí),若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場,磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。
滲透探傷
著色(滲透)探傷的基本原理是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷,經(jīng)清洗使表面滲透液支除,而缺陷中的滲透殘瘤,再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘瘤滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。
無損探傷
超聲檢測、射線檢測、磁粉檢測、滲透檢測 |