CME-PL光致發光量子效率測量系統是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出 。該產品是一個系統解決方案，包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和計算機。 專用軟件使操作變得簡單。可用于容納液體樣品的薄膜，粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉等領域。
主要特點:
l適用于粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率；
l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低；
l激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長；
l體積小巧：便于靈活使用及運輸；
l堅固、緊湊的設計，可以***限度減少實驗室空間；
l專業軟件，操作簡單；
l光致發光量子效率、熒光材料發光發光測量（量子效率X吸收）、量子效率和激發波長的關系（-02G，-03G）、光致發光譜（峰值波長，FWHM）、光致發光激發譜（-02G,-03G）、色彩測定（色度、色溫、顯色指數等）。
技術參數
單色可調光源
型號
CME-TLSX300F
功率
300W
光譜范圍
300-1100nm
焦距
150mm
分辨率
0.3nm
帶寬
0.3-22nm
光譜儀
型號
CME-QE2000（可選）
光譜范圍（nm）
300-1100nm
光譜儀分光元件
全息成像光柵
感光元件
電子冷卻型CCD影像感測器
信噪比
1000:01:00
分辨率
2.5nm(FWHM)
積分球
尺寸
100mm
涂層材質
Sperctralon
光纖
芯徑
800u |
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