SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射線熒光光譜儀SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件,可獲得*佳的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發,12位樣品自動交換器,預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊,德國斯派克分析儀器公司開發出了一種極其成功的技術，把偏振X射線應用于熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發展這一技術，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。技術參數：
激發- Mo 靶X光管zui大功率：30W,zui大電壓：48kV- 測量點尺寸Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm樣品室- 可顯示樣品的攝像系統(可調焦)- 手動調節樣品臺，樣品定位簡便- 馬達驅動精確移動的XYZ樣品臺，zui大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，zui大樣品重量：3kg/6.6 lbs計算機- 外置式計算機系統，Windows操作系統，- 鍵盤，鼠標，顯示器，打印機- 菜單式軟件，光譜儀參數調整和數據評估及計算，元素成分及分布顯示檢測器- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器:Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2- 以Mn Kα線，在測量計數率為10，000脈沖計數時， 能量分辨率：FWHM< 160 eV- 微處理器控制的檢測器和讀出電路- 脈沖計數率可達250，000 cps光譜儀數據- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,- 光譜儀能耗：200W- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據不同配置分析- 用于合金元素分析的基本參數程序FP +- 塑料及復合材料的RoHS指令檢測環境條件- 周圍環境溫度：5-30°C （41-85°F）在20-25°C （68-77°F）下，可達到標定儀器性能- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵.
SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件，可獲得*佳的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應用包，包括：在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令。 |
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