AECQ101認(rèn)證包含了離散半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)*低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件,目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。
AECQ101認(rèn)證要求成功完成根據(jù)本規(guī)范各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了AEC Q101認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商,可以在樣品量和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些,但是只有完成所有要求時(shí)候才能認(rèn)為該器件通過(guò)了AEC-Q101認(rèn)證。如靜電放電,承受電壓在任何一個(gè)供應(yīng)商的帶Pin元件數(shù)據(jù)表中都要注明,該要求被高度推薦.但允許供應(yīng)商作出聲明,例如,“AEC-Q101 qualified to ESD H1B”,這意味著除AEC ESD外,供應(yīng)商通過(guò)了所有的測(cè)試。請(qǐng)注意,即使合格的器件AEC也不會(huì)頒發(fā)證書(shū).
根據(jù)本規(guī)范,離散半導(dǎo)體的*低溫度的范圍應(yīng)為-40℃ ~ +125℃,所有LED的*小的范圍應(yīng)為40℃到85℃。(注:某些器件*高溫度可能降到零)。
測(cè)試項(xiàng)目要求:
應(yīng)力測(cè)試前后(電學(xué)測(cè)試)、預(yù)處理、目檢、參數(shù)驗(yàn)證、高溫反向偏壓、高溫柵偏壓、溫度循環(huán)、無(wú)偏高加速度應(yīng)力、高壓鍋、高加速度應(yīng)力測(cè)試、高溫高濕反向偏壓、間歇運(yùn)行壽命、功率和溫度循環(huán)、靜電放電特性、破壞性物理分析、物理尺寸 、端子強(qiáng)度、耐溶劑性、恒定加速度、變頻震動(dòng)、機(jī)械沖擊、氣密性、耐焊接熱、可焊性、熱阻、邦線強(qiáng)度、邦線剪切、芯片剪片、雪崩擊穿、絕緣、短路可靠性、無(wú)鉛
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