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供應(yīng)美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀

詳細(xì)說明

灣邊貿(mào)易供應(yīng)美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀

美國Sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀器采用了獨(dú)特的測量和分析技術(shù)，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)photoconductance (QSSPC)測量方法。可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。WCT一個高度被看待的研究和過程工具。QSSPC終身測量也產(chǎn)生含蓄的打開電路電壓(對照明)曲線，與I-V曲線是可比較的在一個太陽能電池過程的每個階段。Sinton WCT-120

WCT-120準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)法測少子壽命的原理？

WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)）

準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)衰減法（QSSPC）和微波光電導(dǎo)衰減法（MWPCD）的比較？

QSSPC方法優(yōu)越于其他測試壽命方法的一個重要之處在于它能夠在大范圍光強(qiáng)變化區(qū)間內(nèi)對過剩載流子進(jìn)行*對測量，同時可以結(jié)合 SRH模型，得出各種復(fù)合壽命，如體內(nèi)缺陷復(fù)合中心引起的少子復(fù)合壽命、表面復(fù)合速度等隨著載流子濃度的變化關(guān)系。Sinton WCT-120

MWPCD方法測試的信號是一個微分信號，而QSSPC方法能夠測試少子壽命的真實值，MWPCD在加偏置光的情況下，結(jié)合理論計算可以得出少子壽命隨著過剩載流子的變化曲線，而QSSPC直接就能夠測得過剩載流子濃度，因此可以直接得出少子壽命與過剩載流子濃度的關(guān)系曲線，并且得到PN結(jié)的暗飽和電流密度；MWPCD由于使用的脈沖激光的光斑可以做到幾個到十幾個，甚至更小的尺寸，在照射過程中，只有這個尺寸范圍的區(qū)域才會被激發(fā)產(chǎn)生光生載流子，也就是得到的結(jié)果是局域區(qū)域的差額壽命值，這對于壽命分布不均勻的樣品來說，結(jié)果并不具備代表性。Sinton WCT-120

美國Sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀的主要特點:

適應(yīng)低電阻率樣片的測試需要，樣品電阻率可達(dá)0.1ohmcm

全自動操作及數(shù)據(jù)處理

對太陽能級硅片，測試前一般不需鈍化處理

能夠測試單晶或多晶硅棒、片或硅錠

可以選擇測試樣品上任意位置

能提供專利的表面化學(xué)鈍化處理方法

對各道工序的樣品均可進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控：

硅棒、切片的出廠、進(jìn)廠檢查

擴(kuò)散后的硅片

表面鍍膜后的硅片以及成品電池

測量原理 QSSPC（準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)）

少子壽命測量范圍 100 ns-10 ms

測試模式：QSSPC,瞬態(tài)，壽命歸一化分析

電阻率測量范圍 3–600 (undoped) Ohms/sq.

注入范圍：1013-1016cm-3

感測器范圍直徑40-mm

測量樣品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）

硅片厚度范圍 10–2000 μm

外界環(huán)境溫度 20°C–25°