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麥克博斯儀器有限公司：led半導體老化房，高溫老化測試室詳細資料
1．主要技術參數：
1.1 溫度范圍：常溫+5℃－－60℃（常溫+5℃－－-80℃）
1.2 溫度波動：±0.5℃；
1.3 溫度偏差：*大精度±3℃（可根據客戶要求設計精度）
1.4 房內尺寸：按要求；
1.5 運行方式：溫度可調，恒定運行或程序運行（可選觸摸屏式程序運行）
1.6 安裝電源：AC~380V；50 Hz；
1.7 噪音大小：≦75分貝
led半導體老化房，高溫老化測試室控制系統；
采用兩級PID調節加熱量，實現對測試區（產品區）溫度的精確控制，同時溫度控制器可以對測試區任意溫度進行滾動實時顯示,有獨立負載的還可以對負載區的溫度進行監控，防止負載區溫度過高，方便客戶準確掌握測試區溫度情況。控制系統還設定了各種保護功能，有超溫報警保護、風機故障報警保護、無風報警保護、室內煙氣感應報警保護等，完善的保護功能確保了老化房能長期穩定無故障運行。（可選PLC來控制）
老化房，又叫燒機房，是針對高性能電子產品仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。
led半導體老化房，高溫老化測試室，又叫高低溫試驗室或溫升房,是針對高性能電子產品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。根據不同的要求配置主體系統。 |
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