燈具CE認(rèn)證的項(xiàng)目下列：
EMC測(cè)試 （工作電壓直流75V以下，交流50V以下 測(cè)試這一項(xiàng)即可）
LVD安規(guī)測(cè)試 （工作電壓直流75V以上，交流50V以上 測(cè)試EMC+LVD兩項(xiàng)）
2013年之后實(shí)行燈具的EMF檢測(cè)
歐盟CE燈具EN62493認(rèn)證與測(cè)試
我們?yōu)榭蛻籼峁?新的關(guān)于燈具產(chǎn)品產(chǎn)生的磁場(chǎng)感應(yīng)密度對(duì)與人體的電磁評(píng)估測(cè)試以及認(rèn)證。對(duì)于出口歐洲地區(qū)出貨至明年2013年2月1日的所有的燈具CE認(rèn)證中必須評(píng)估，其中標(biāo)準(zhǔn)EN62493:2010將于明年的2月1日將強(qiáng)制執(zhí)行。
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EMC測(cè)試
電磁兼容（EMC）是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量*重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。
EMC測(cè)試-構(gòu)成
EMC包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和 EMS(敏感度，抗干擾）
EMI測(cè)試項(xiàng)包括：RE（輻射，發(fā)射）
CE(傳導(dǎo)干擾）
Harmonic（諧波）
Flicker (閃爍)
EMS測(cè)試項(xiàng)包括：ESD （靜電）
EFT（瞬態(tài)脈沖干擾）
DIP(電壓跌落）
CS（傳導(dǎo)抗干擾）
RS（輻射抗干擾）
Surge（浪涌，雷擊）
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PMS(工頻磁場(chǎng)搞擾度）
EMC測(cè)試-指南
一、EMI（電磁騷擾）分射頻和工頻兩類測(cè)試
l 射頻類測(cè)試項(xiàng)目：
1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試
射頻傳導(dǎo)（屏蔽室測(cè)試）
1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試
1.1.2 傳導(dǎo)電壓標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14、15、22
1.1.3 傳導(dǎo)功率標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14
射頻輻射（電波暗室測(cè)試）
1.1.4 射頻輻射標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、22、IEC60571
l 工頻類測(cè)試項(xiàng)目（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試）
1.2 工頻分諧波和閃爍兩項(xiàng)測(cè)試
工頻諧波1.2.1 IEC6100-3-2 工頻閃爍1.2.2 IEC6100-3-3
二、EMS（電磁敏感度）分瞬變、射頻、低頻磁場(chǎng)、電源質(zhì)量
l 瞬變類測(cè)試項(xiàng)目（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試）
2.1 瞬變分靜電、瞬變脈沖和浪涌三項(xiàng)測(cè)試
瞬變靜電IEC6100-4-2 瞬變脈沖IEC6100-4-4 瞬變浪涌IEC6100-4-5
l 射頻類項(xiàng)目
2.2 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試
射頻傳導(dǎo)IEC61004-6（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試） 射頻輻射IEC6100-4-3（電波暗室測(cè)試）
l 低頻磁場(chǎng)類測(cè)試項(xiàng)目（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試）
2.3 低頻磁場(chǎng)分脈沖磁場(chǎng)和工頻磁場(chǎng)兩項(xiàng)測(cè)試
脈沖磁場(chǎng)IEC6100-4-9 工頻磁場(chǎng)IEC6100-4-8 電源質(zhì)量類測(cè)試項(xiàng)目（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試）
2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試 IEC6100-4-11
注：1. 傳導(dǎo)功率測(cè)試面積 > 7x1M
2. 傳導(dǎo)電壓測(cè)試桌：推薦 2x1.5x0.8 要考慮柜式設(shè)備的測(cè)試面積。
3. 諧波及閃爍測(cè)試面積 >2x2
4. 靜電放電測(cè)試桌：推薦 2x1.5x0.8
5. 瞬變及電源質(zhì)量測(cè)試桌： 推薦 2x1.5x0.8
4. 5. 可用同一張測(cè)試桌
6. 傳導(dǎo)射頻敏感度測(cè)試桌： 推薦 2x1.5x0.8
5. 6. 可用同一張測(cè)試桌
7. 屏蔽室和實(shí)驗(yàn)室要有相應(yīng)的溫濕度要求
8. 敏感度測(cè)試時(shí)周圍不能有敏感設(shè)備
9. 在實(shí)驗(yàn)室做測(cè)試時(shí)，周圍不能有發(fā)射或干擾設(shè)備否則測(cè)試要在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。 |
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