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材料表面形貌及成分分析

材料表面形貌及成分分析//材料表面形貌及成分分析

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公　司：深圳市美信檢測有限公司

發布時間：2015年05月29日

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羅時斌先生 (銷售工程師)

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電　　話： 0755-36606291 傳　　真： 0755-27821672 手　　機： 18038054532 地　　址：中國廣東深圳市深圳市寶安區石巖鎮北大方正科技園A5棟1樓郵　　編：
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詳細說明

通過分析樣品的表面/或近表面來表征材料。基于您所需要的資料,我們可以為您的項目選擇*佳的分析技術。我們的絕大部分的技術使用固體樣品，有時會用少的液體樣品來獲取固體表面的化學信息。在許多情況下材料表征和表面分析是很好的選擇，絕大大部分屬于兩類:
1）已知自己擁有什么樣的材料，但是想要更多關于具體性能的信息，比如界面銳度、剖面分布、形態、晶體結構、厚度、應力以及質量。
2）您有對之不是完全了解的材料，想找出有關它的成份、沾污、殘留物、界面層、雜質等。掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS）是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。SEM/EDS正是根據上述不同信息產生的機理，對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息，對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。

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