通過分析樣品的表面/或近表面來表征材料�；谀枰馁Y料,我們可以為您的項目選擇*佳的分析技術(shù)。 我們的絕大部分的技術(shù)使用固體樣品，有時會用少的液體樣品來獲取固體表面的化學(xué)信息。在許多情況下材料表征和表面分析是很好的選擇，絕大大部分屬于兩類:
1）已知自己擁有什么樣的材料，但是想要更多關(guān)于具體性能的信息，比如界面銳度、剖面分布、形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)、厚度、應(yīng)力以及質(zhì)量。
2）您有對之不是完全了解的材料，想找出有關(guān)它的成份、沾污、殘留物、界面層、雜質(zhì)等。 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS）是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。SEM/EDS正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息，對x射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。 |
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