形貌及粒徑分布是材料尤其是納米材料分析的重要組成部分，劑拓材料科技有限公司為您提供專(zhuān)業(yè)高效的納米材料的幾何形貌，材料的顆粒度及粒徑分布方面的分析測(cè)試服務(wù)。
測(cè)試方法：根據(jù)待測(cè)物質(zhì)的性質(zhì)不同，我們會(huì)為您提供專(zhuān)業(yè)的成分分析測(cè)試方案，主要的測(cè)試方法如下：
測(cè)試方法 適用條件
掃描電子顯微鏡（SEM）/場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復(fù)合材料結(jié)構(gòu), 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。要求樣品導(dǎo)電，或噴碳或者噴金處理。
結(jié)合EDS進(jìn)行元素定性分析。
透射電鏡（TEM） 透射電鏡可以表征樣品的質(zhì)厚襯度，也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。投射電鏡的分辨率比掃描電鏡要高一些。
投射電鏡優(yōu)點(diǎn)：獲得高倍放大倍數(shù)的電子圖像；得到電子衍射花樣。
掃描隧道顯微鏡（STM） 掃描隧道顯微鏡作為一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子，它具有比它的同類(lèi)原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下（4K）可以利用探針*端
原子力顯微鏡（AFM） AFM提供真正的三維表面圖。同時(shí)，AFM不需要對(duì)樣品的任何特殊處理。電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來(lái)研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）相比，由于能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品，因此具有更為廣泛的適用性。
樣品要求：
根據(jù)不同測(cè)試方法具體給出。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 16594-2008微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
ASTM E1056-2013 Standard Practice for Installation and Service of
GB/T 18907-2013微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
報(bào)告內(nèi)容
原始圖譜，原始數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分析
常規(guī)圖譜
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