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超精度美國博曼（BOWMAN）線路板X-RAY膜厚測試儀

超精度美國博曼（BOWMAN）線路板X-RAY膜厚測試儀//超精度美國博曼（BOWMAN）線路板X-RAY膜厚測試儀

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公　司：深圳市金東霖科技有限公司

發布時間：2014年09月28日

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張丹女士 (銷售)

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電　　話： 075529371655 傳　　真： 075529371655 手　　機： 13602568074 地　　址：中國廣東深圳市沙井鎮北環大道110號綜合大樓502室郵　　編： 518000
公司主頁：	http://zd990225.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細說明

是一種專門應用于半導體材料和電子器件領域的檢測設備。
具有強大功能的X-射線，軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
測量更小、更快、更薄MicronX比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。

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