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美國博曼（BOWMAN）PCB板X-RAY膜厚測試儀

美國博曼（BOWMAN）PCB板X-RAY膜厚測試儀//美國博曼（BOWMAN）PCB板X-RAY膜厚測試儀

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公　司：深圳市金東霖科技有限公司

發布時間：2014年09月28日

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詳細說明

膜厚測試儀主要是用于檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，從而保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費，而美國博曼BA100是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求，可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層。分析元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素，應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

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