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FE-SEM測試_FE-SEM檢測_場發射掃描電鏡測試_檢測

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公　司：上海劑拓材料科技有限公司

發布時間：2015年09月06日

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詳細說明

FE-SEM測試_FE-SEM檢測_場發射掃描電鏡測試_檢測
場發射SEM EDS掃描電鏡
是依據電子與物質的相互作用。樣品表面加一個強電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應，樣品金屬內部的電子穿過勢壘從金屬表面發射出來，這種現象稱場發射。亮度高約比普通SEM高100倍，分辨率可達10nm.
2. FE-SEM EDS掃描電鏡能譜應用
材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態復合材料結構, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。
3.適用標準
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
4.送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.

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