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美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀

美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀//美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀

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公　司：深圳市金東霖科技有限公司

發(fā)布時間：2014年08月19日

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詳細說明

博曼X-RAY膜厚測試儀是一種可由.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素，應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領(lǐng)域.可快速測量17號元素氯到92號元素鐳的所有元素：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

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