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半導體BOWMAN X射線熒光電鍍膜厚儀

半導體BOWMAN X射線熒光電鍍膜厚儀//半導體BOWMAN X射線熒光電鍍膜厚儀

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公　司：深圳市金東霖科技有限公司

發布時間：2014年08月19日

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張丹女士 (銷售)

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公司主頁：	http://zd990225.qy6.com.cn(加入收藏)

詳細說明

是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。
用先進的X射線技術,可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
測量技術領先同行15年，在同測量領域獨領風蚤，成為膜厚儀之王，精準的數據，高端先進的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴

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