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丟失的單片機資料或學習國外單片機企業先進的設計思路提供技術支持，在MCU/CPLD/SPLD/PLD芯片解密技術的領域積累了豐富的開發經驗。
C8051F346芯片主要特性：
內部振蕩器校準到12MHz±1.5％，工廠和內部振蕩器的周期可能是用戶編程?0.25％的增量。另外一個低頻振蕩器也可這有利于低功率運行。一個時鐘恢復機制，使內部振蕩器要與使用的4倍時鐘作為
全速模式USB時鐘源乘法器;內部振蕩器也可作為在低速模式USB時鐘源。一個外部CMOS時鐘也可以使用4倍時鐘乘數。系統時鐘可以配置為使用內部振蕩器，外部時鐘，低頻振蕩器或時鐘乘法器輸出除以2
。如果需要，系統時鐘源可切換上振蕩器源之間的禁飛區。外部時鐘和內部低頻振蕩器可非常有用，低功耗應用，使單片機運行緩慢（省電）的時鐘源，而周期性地切換到高頻率的內部振蕩器需要。
電子探針儀是X射線光譜學與電子光學技術相結合而產生的。以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗，又稱電子探針X射線顯微
分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補*位而釋放能量，從而產生特征X射線。
用波長色散譜儀（或能量色散譜儀）和檢測計數系統，測量特征X射線的波長（或能量）和強度，即可鑒別元素的種類和濃度。
在不損耗試樣的情況下，電子探針通常能分析直徑和深度不小于1微米范圍內、原子序數4以上的所有元素；但是對原子序數小于12的元素，其靈敏度較差。常規分析的典型檢測相對靈敏度為萬分之一
，在有些情況下可達十萬分之一。檢測的*對靈敏度因元素而異，一般為10-14～10-16克。用這種方法可以方便地進行點、線、面上的元素分析，并獲得元素分布的圖象。對原子序數高于10、濃度高于
10％的元素，定量分析的相對精度優于±2％。
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