新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供卓越的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為全球造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。
SediGraph粒度儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
粒度儀高精度X射線管，7年保修
簡化的泵系統(tǒng)，確�？焖俜治霾⒁子诰S護(hù)
低噪音，提供安靜的工作環(huán)境
維護(hù)提醒裝置，根據(jù)已分析的樣品數(shù)自動(dòng)提醒維護(hù)
混合室溫度電腦控制，提高重復(fù)性與重現(xiàn)性
多功能報(bào)告系統(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種數(shù)據(jù)顯示選項(xiàng)
操作軟件可連接網(wǎng)絡(luò)，提供點(diǎn)擊選擇、網(wǎng)絡(luò)化、打印機(jī)選擇、剪切和粘貼等功能
SediGraph粒度儀完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等國際標(biāo)準(zhǔn)
詳見：麥克默瑞提克粒度儀http://www.micromeritics.com.cn/products_view.aspx?id=25 |
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