新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合，提供卓越的重復性、準確性和重現性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質量，利用國際標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為全球造紙、陶瓷、磨料等數個行業的金色標準。
SediGraph粒度儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
粒度儀高精度X射線管，7年保修
簡化的泵系統，確保快速分析并易于維護
低噪音，提供安靜的工作環境
維護提醒裝置，根據已分析的樣品數自動提醒維護
混合室溫度電腦控制，提高重復性與重現性
多功能報告系統可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種數據顯示選項
操作軟件可連接網絡，提供點擊選擇、網絡化、打印機選擇、剪切和粘貼等功能
SediGraph粒度儀完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等國際標準
詳見：麥克默瑞提克粒度儀http://www.micromeritics.com.cn/products_view.aspx?id=25 |
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