錦通自動化位于珠三角西岸中山市，公司于2012年成立。自公司成立以來，經過全體員工的不懈努力，公司不斷壯大，業(yè)務已遍布整個華南。我們致力于提高企業(yè)的生產效率、節(jié)約生產成本和解決企業(yè)難以聘請普工的難題，為客戶度身定做自動化設備和配套的工裝治具，并提供從研發(fā)、生產、銷售到維護的一站式服務。
我們一直專注于自動組裝設備，老化設備，測試設備及工裝等等。我們擁有一支經驗豐富、勇于創(chuàng)新的研發(fā)隊伍，通過引進和吸收國內外先進技術，不斷提高研發(fā)能力，力求滿足客戶多元化的需求。我們不斷研發(fā)出高質量的新產品，并獲得了廣大用戶的好評。木林森，緯創(chuàng)資通，泰然光電，佳能等知名企業(yè)已與我們建立了長期友好的合作關系。
我們會繼續(xù)以精良的產品、合理的價格、優(yōu)質的服務來迎接瞬息萬變的市場需求，滿足用戶不斷發(fā)展的業(yè)務需要，為廣大客戶的產品開發(fā)、生產提供系統(tǒng)、全面、周到的一條龍服務。
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以下內容為你解讀本產品：
因為FCT測試治具的區(qū)別,CP和FT的不同點并不只是限于所在的工序期間不同,兩者在效率和功用籠蓋上都有著明顯的區(qū)別,這些信息是每一個IC從業(yè)職工需求根本了解的。
那這樣一來,咱們還需不需求CP測試?或許在CP測試期間怎么對具體測試項目進行取舍呢?要回答這個題目,咱們就必需對CP的意圖有深入的了解.那CP的意圖究竟是啥呢?
當然,理論上在CP期間也能夠進行高速信號和高精度信號的測試,但這一般需求采用專業(yè)的高速探針計劃,如筆直針/MEMS探針等技能,這會大大增加硬件的本錢.多數(shù)情況下,這在經濟視點上來說是分歧算的。
關于CP和FT的測試,我本來以為這個論題已經是業(yè)界知識,不需求專門再談了.不外前幾天和一個設計公司的主管交流了一下,發(fā)現(xiàn)真實良多非測試專業(yè)的從業(yè)職工對這兩個概念真實了解并不像我以為的那樣深入.所以,我仍是有必要在這里再談一下。
按照國際慣例,首要需求再解釋一下啥是CP和FT測試.CP是(Chip Probe)的縮寫,指的是芯片在wafer的期間,就經過探針卡扎到芯片管腳上對芯片進行機能及功用測試,有時候這道工序也被稱作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的縮寫,指的是芯片在封裝完結今后進行的*極測試,只要經過測試的芯片才會被出貨。
這關于高精度的信號測量也會帶來無窮的影響.所以,一般FCT測試治具只是用于根本的銜接測試和低速的數(shù)字電路測試。
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