x-ray膜厚分析儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時的強度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優點是儀器在斷電后就不會在釋放任何射線，減少了對人體和周圍環境的危害，從而是一種安全的膜厚儀，因此，各大工程中特別是在有色金屬板材生產加工中被廣泛的應用。但是，由于x射線測厚儀的射線強度、以及被測物的材質、溫度、傾斜角度等都會影響到x射線膜厚儀測量的精確度，所以我們應該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進行日常的維護。
x-ray膜厚分析儀* 技術指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時分析*多24個元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度*薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。
* 小孔準直器（*小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。
* 高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個可選擇的分析和識別模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 標準配置開放式樣品腔。
* 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* *新半導體探測器。
* 信號檢測電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。 |
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