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x-ray膜厚測量儀

x-ray膜厚測量儀//x-ray膜厚測量儀

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公　司：深圳市金東霖科技有限公司

發布時間：2014年08月18日

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詳細說明

x-ray膜厚測量儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時的強度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優點是儀器在斷電后就不會在釋放任何射線，減少了對人體和周圍環境的危害，從而是一種安全的膜厚儀，因此，各大工程中特別是在有色金屬板材生產加工中被廣泛的應用。但是，由于x射線測厚儀的射線強度、以及被測物的材質、溫度、傾斜角度等都會影響到x射線膜厚儀測量的精確度，所以我們應該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進行日常的維護。
x-ray膜厚測量儀技術指標：
★ 型號：BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范圍：從AL到U
★ 一次性可同時分析多層鍍層
★ 分析厚度檢測出限*高達0.01um
★ 同時可分析多達5層以上鍍層
★ 相互獨立的基體效應校正模型，*先進厚度分析方法
★ 多次測量重復性*高可達0.01um
★ 長期工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
★ 溫度適應范圍：15℃~30℃
★ 輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）

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