x-ray膜厚測量儀x射線膜厚儀是通過放射x射線穿透被測物體時(shí)的強(qiáng)度衰減量來測量物體厚度。x射線膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)是儀器在斷電后就不會(huì)在釋放任何射線，減少了對人體和周圍環(huán)境的危害，從而是一種安全的膜厚儀，因此，各大工程中特別是在有色金屬板材生產(chǎn)加工中被廣泛的應(yīng)用。但是，由于x射線測厚儀的射線強(qiáng)度、以及被測物的材質(zhì)、溫度、傾斜角度等都會(huì)影響到x射線膜厚儀測量的精確度，所以我們應(yīng)該注意影響x射線膜厚儀測量精度的因素并注重對其進(jìn)行日常的維護(hù)。
x-ray膜厚測量儀技術(shù)指標(biāo)：
★ 型號：BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范圍：從AL到U
★ 一次性可同時(shí)分析多層鍍層
★ 分析厚度檢測出限*高達(dá)0.01um
★ 同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
★ 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，*先進(jìn)厚度分析方法
★ 多次測量重復(fù)性*高可達(dá)0.01um
★ 長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
★ 溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃
★ 輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源） |
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室內(nèi)環(huán)保檢測儀器
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