產品特點
1、高精密花崗巖底座和立柱，堅固穩定。
2、采用LED冷光源，底光和表面光手動可調，實現透射和反射照明，亮度高，壽命長，體積小。
3、采用連續變倍的物鏡可以快速改變圖像的放大倍率，適用于不同工件的測量。
4、無間隙摩擦傳動，可切換快速移動，大大提高了工作效率。
5、JVT系列是在JVP型的基礎上，增加了高精度Renishaw探針測頭，配備TPM專用軟件，可作立體工件上的斜面、圓、槽溝、柱、球、錐、盲孔、高度等測量，以及各要素的相關位置、距離、角度計算，可一次性完成整個測量。
產品用途
1、能高效地檢測各種形狀復雜工件的輪廓、表面形狀及尺寸、角度和位置，特別是精密零部件的微觀檢測與質量控制。
2、適用于電子、儀器儀表、刀夾具、精密機械零件、精密五金件、電子元器件、塑料與橡膠成品、半導體元器件、沖壓件、接插件、模具、汽車、機械加工、軍工、航天航空、高等院校、科研院所等行業及各級計量部門或車間檢查站。
性能參數
產品型號 JVT250 JVT300 JV400
測量行程（mm） 250x150x200 300x200x200 400x300x200
儀器外形尺寸（mm） 800x500x1650 980x650x1650
工作臺承重：30KG
操作方式：手動(科切換快速移動)
放大倍率：光學0.7x~4.5x
影像放大倍率：28x~180x
測量系統：FOUC半自動測量軟件+TMP三坐標測量軟件
測量分辨率：1μm
測量精度：(3+L/200）μm
重復性：2μm
適合環境：溫度20±5°；濕度45％~75％
CCD：進口彩色41萬像素彩色CCD
電源供電：(110V/220V）±10％ ；( 50/60)Hz
TPM三坐標測量軟件（JVT專用）
1、幾何元素測量功能：采集點、線、圓、橢圓、平面、球、圓筒、圓錐等。
2、組合計算功能：具有距離、角度、組合點、組合面、組合圓等組合計算功能。
3、形位公差：計算真直度、真圓度、平面度、圓柱度、垂直度、平行度、同軸度等。
4、探針校正和坐標調整：進行探針校正、工件坐標調整。
5、探頭測量方位：可進行多種探頭方式和多種角度選擇。
6、數據輸出：可輸出至Excel、Word、AutoCAD等軟件進行進一步處理和統計分析。
半自動測量軟件
軟件特點
1、適用于WINDOWS XP操作系統。
2、提供彩色高品質影像。
3、可測量點、線、圓、距離、角度，計算真圓度、真直度、同心度等，并能實時產生檢驗報表。
4、可切換成中文簡體、繁體、英文三種界面。
5、可根據實際物體的擺放位置，在原有坐標系與實際位置不符時，可重新建立新坐標系并自動擺正。
6、圖形及測量值可用WORD、EXCEL、DXF等格式自由輸出。
7、具有影像尋邊功能，可設定感應靈敏度和定焦精度，能有效避免視覺誤差。
8、測量畫面可儲存成影像文件（JPG、BMP）或轉至AUTOCAD中進行編輯。
9、可方便切換測量值的基本單位（mm或inch）。
10、可將（X、Y）笛卡爾直角坐標系轉換成（r、θ）極坐標系。
軟件功能
1、基本幾何測量：測量點、線、圓、圓弧、橢圓等。
2、自動測量功能：自動尋邊測量、框選測量、篩選毛邊自動尋邊快速測量點、線、圓、弧等。
3、組合元素測量：對點、線、圓進行組合測量，可計算圓心距、圓切線、兩線中線、中心點、垂直距離、角平分線、兩線交點等。
4、形位誤差測量：測量計算同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度等形位誤差。
5、坐標系設定：可對原始坐標進行坐標平移、坐標旋轉，針對物件的位置進行擺正，或是重設新的坐標系。
6、對比功能：將幾何測量的工件影像圖形以DXF格式輸出，進行實時對比測量，還能分別調出AutoCAD工程圖紙的文檔與影像DXF文檔圖形進行重疊對比測量，從而檢定工件與標準圖紙之間的偏差。
7、半自動測量高度：對焦指示器可以利用Z軸微步距移動，進行對焦以獲取多個清晰的Z軸斷層圖像，并且可以將它們合成一個清晰完整的圖像組合，系統會根據圖像組合判定圖像的*好清晰度位置，有效的增強測量的可靠性和重復精度準確性，減小誤差。
8、尺寸標注功能：可在物體影像測量中，根據影像圖形進行復合運算測量，而無需點擊功能鍵和命令欄，并可直接對影像視窗中的影像圖形進行長度、角度、坐標、半徑等的標注。
9、檢測結果的輸出：可輸出至DXF/WORD/EXCEL等進行數據處理。
10、形位公差設定：可將工件中的幾種形位位置公差，以快捷鍵形式標識出來，并可在智能化對話框中進行選擇，操作簡單方便。
11、直軸光源系統：采用直軸光源系統可高精度的顯示工件輪廓，使工件在利用半自動版影像測量軟件進行測量時，能更準確的獲得測量數據。
12、2D抄數功能：測量軟件可進行逆向工程中2D/3D抄數，以便能制作標準的2D工程圖及三維模型，為其它五金塑膠模具等逆向工程開發提供了極大空間。
13、測量資料統計（SPC）：操作者可根據工件測量要求，自行編輯數據統計表。如可對*大值、*小值、平均值、偏移量、平均偏移量、標準差、X-R、XM-R管制圖、X-S、Ca、Cp、Cpk等數據進行統計。
14、半自動學習功能：測量系統有半自動程序編程功能，可儲存/調出使用。進行批量檢測時只需進行一次測量路徑編程后，就可自動抓取測量點，無需再次操作。 |
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