BOWMAN(博曼)X射線半導(dǎo)體膜厚儀此儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。Bowman博曼膜厚儀無(wú)數(shù)次的專利發(fā)明,包括使用DCM 自動(dòng)對(duì)焦方法和透明的準(zhǔn)值器,操作簡(jiǎn)單。不用調(diào)校.
X-射線管的距離也可測(cè)量,操作人員只需要調(diào)校樣品焦距便可以測(cè)量。
BOWMAN(博曼)X射線膜厚儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
BOWMAN(博曼)X射線半導(dǎo)體膜厚儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個(gè)領(lǐng)域.
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