博曼膜厚儀設備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497國際標準，主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。采用全新數學計算方法,采用*新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!! 博曼膜厚儀采用真正的基本參數原理（FP）來測量厚度.
博曼膜厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層。
分析多達4種元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。 應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域. |
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