CS8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家
作為一款高性能的立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，CS8800M MAX配置了高功率X射線激發系統，同時搭配了高計數率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現更高精度的過程和質量控制。
CSX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。
CS8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產原料及成品化學成分定性定量快速分析，快速準確無損高效環保，無需酸堿化學藥劑
CS8800M MAX應用方向
>RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查
>石油化工：燃料，潤滑油監測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析
>環境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制
>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質
>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物
>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，包裝材料
>科研，高校，材料研發
產品特點
•配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同時進行元素和氧化物成分分析
•特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性�？赏瑫r選配氦氣系統，實現液體和粉末樣品的直接測試
•八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差
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