測試項目：
1：形貌、能譜點掃、能譜線掃、能譜面掃（mapping）
2：儀器放大倍數范圍是100倍-20W倍，常規樣品可以拍攝到8-10W倍，導電性不好或磁性樣品大于8W倍可能會不清晰。
3：能譜：SEM能譜一般只能測C（含C）以后的元素，（B元素也能做，但是不準，不建議做）如果需要打能譜，需要備注好測試位置以及能譜打哪些元素，需要注意的是制樣時待測元素不能與基底成分有重合，如果要測C元素，樣品不要分散到含C的基底上，可以分散到硅片，錫紙上，如果要測Si元素，注意不要制樣到硅片上。
注意事項：
(1)要求樣品無毒、無放射性、干燥無污染、熱穩定性好、耐電子束轟擊。保證測試人員安全；
(2)樣品必須干燥，不含水分或有機揮發物；
(3)樣品必須具有穩定的化學性質和物理性質，在高能電子束的輻照下保持成分穩定和形態不變；
(4)樣品觀察面應清潔，無污染物，同時觀察面應盡量平整；
(5)樣品必須具有良好的導電性和導熱性，在電子束轟擊下不易被分解，熱穩定性高；
(6)磁性樣品要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響；
(7)樣品可以是粉末、薄膜、塊體，無論是表面還是新斷開的斷口或斷面，一般不需要進行處理，以保持其原始的結構狀態。
樣品量的要求：
粉末、液體、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬≤25px，厚度≤25px，樣品質量不超過200g；混凝土，珊瑚沙，氣凝膠等需要抽真空時間非常長的樣品尺寸請盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm；
(8)塊體：直接用導電膠粘在樣品臺上測試，若需拍塊體/薄膜截面，需明確截面制備方法，一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆斷兩種方式；薄膜或塊狀標記好要測試的面（正面和反面），制樣方式有特殊需求請說明 |
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