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微晶玻璃應力儀SLP-2000（518nm波段）技術規格書

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公　司：深圳市田野儀器有限公司

發布時間：2023年07月09日

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黃生先生 (銷售主管)

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詳細說明

1.設備名稱：微晶玻璃應力儀

2.設備型號：SLP-2000（518nm波段）

微晶玻璃應力儀SLP-2000（518nm波段）技術規格書

3.主要技術規格：

3.1 利用散亂光光彈性的原理來測量以往無法測量的鋰鈉離子交換的化學強化玻璃。

3.2 若表面附近有鉀離子層，可以與表面應力計FSM-6000的數據進行相結合來分析斷面的應力分布。

3.3 應力測量范圍：0-2000MPa

3.4 應力測量精度：從表面起深度50um以上 ±2MPa（標準片為基準）

3.5 應力層深度測量范圍：10-600um

3.6 應力層深度測量精度：±2um（標準片為基準）

3.7 光源：LD 520±10nm 30mw Class 3B

3.8 測量對象：化學強化玻璃、2段強化玻璃、物理強化玻璃

3.9 測量形狀：平面-1000R 10 x 10mm以上

3.10 三棱鏡折射率：1.518@518nm

3.11 PC：專用（OS、測量軟件安裝完成）

3.12 OS：Windows10

3.13 尺寸：W320*D280*H220mm（本體）

3.14 重量：16kg（本體）

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