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半導體器件測試儀

半導體器件測試儀//半導體器件測試儀

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公　司：西安智盈電氣科技有限公司

發布時間：2024年10月23日

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詳細說明

功能概述
3-1測試功能范圍
該套測試設備主要可測試以下參數：
1.門極參數測試：VGT、IGT
2.維持電流測試：IH
3.阻斷參數測試：本測試單元可用以測量晶閘管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及整流二極管的VRRM、IRRM等參數。
4.壓降單元
本測試單元用來測量晶閘管、整流管的VTM、ITM、VFM、IFM等參數。
5、電壓上升率參數測試：dv/dt
6、擎住電流IL
7、門極電阻：適合門極觸發電壓在0.95V以上器件測試
3-2、測試方法和測試準則及原理滿足 IEC 60747-6-2000 中關于晶閘管測試的具體規定。

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