芯片集成電路量產測試與篩選覆蓋：
時基電路、總線收發器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓比較器、電源類芯片（穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等）、致模轉換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;
芯片量產測試功能驗證測試
目前芯片FT測試主要用到ATE測試系統，包括軟件和測試設備、測試硬件。ATE是Automatic Test Equipment的縮寫， 于半導體產業意指集成電路(IC)自動測試機， 用于檢測集成電路功能之完整性， 為集成電路生產制造之*后流程， 以確保集成電路生產制造之品質。
ATE測試程序主要測試項目如下：
Open/Short test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。
Function test: 測試芯片的邏輯功能。
DC test: 驗證器件直流電流和電壓參數。
AC test: 驗證交流規格，包括交流輸出信號的質量和信號時序參數。
Eflash test: 測試內嵌flash的功能及性能，包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數。
Mixed Signal test: 驗證DUT數模混合電路的功能及性能參數。
RF test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數。
軍工芯片（集成電路）篩選
軍工集成電路的篩選方法與程序主要依據GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序。本標準規定了軍用微電子器件的環境、機械、電氣試驗方法和試驗程序，以及為保證微電子器件滿足預定用途所要求的質量和可靠性而必須的控制和限制措施。
GJB 548B-2005標準適用于軍及空間應用的微電子器件。如果承制方標明或聲稱其半導體集成電路符合本標準的規定，則必須滿足方法 5004、5005 或5010（對復雜微電路）的要求，混合集成電路應滿足GJB 2438的要求，同時應滿足本標準的一般要求和所引用的其他試驗方法的要求，而且產品規范應經標準化機構確認。 |
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集成電路(IC)
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