泰克 Tektronix DSA8300 數字采樣示波器
描述
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
主要特性和技術指標
電模塊信號測量準確度：
超低系統抖動（典型 <100 fs）
> 70GHz
<100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。
所有帶寬上系統噪聲業內*低：
600 μV *大（450 μV 典型）@ 60 GHz
380 μV *大（280 μV 典型）@ 30 GHz
較大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。
單臺主機內*多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動：
多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。
光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光一致性測試：
為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。
優異的采集吞吐量，采樣率*高 300 kS/s：
通過優異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。
能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近：
遠程采樣頭*大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。
獨立的已校準通道相差校正：
雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的 |
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