三坐標(biāo)構(gòu)件在機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用。三坐標(biāo)構(gòu)件是測(cè)量和獲得尺寸數(shù)據(jù)的*有效的方法之一，因?yàn)樗梢源娑喾N表面測(cè)量工具及昂貴的組合量規(guī)，并把復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)所需時(shí)間從小時(shí)減到分鐘，這是其它儀器而達(dá)不到的效果。
三坐標(biāo)構(gòu)件組成
三坐標(biāo)構(gòu)件一般由以下幾個(gè)部分組成：
1、主機(jī)機(jī)械系統(tǒng)（X、Y、Z三軸或其它）；
2、 測(cè)頭系統(tǒng)；
3、 電氣控制硬件系統(tǒng)；
4、 數(shù)據(jù)處理軟件系統(tǒng)（測(cè)量軟件）；
三坐標(biāo)構(gòu)件使用方法
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)稱(chēng)CMM，自六十年代中期*臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x問(wèn)世以來(lái)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，為測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量，接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測(cè)量機(jī)為例來(lái)說(shuō)明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。 |
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