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Microchip（原Microsemi）3120A相位噪聲測試儀

Microchip（原Microsemi）3120A相位噪聲測試儀//Microchip（原Microsemi）3120A相位噪聲測試儀

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公　司：北京創宇星通科技有限公司

發布時間：2024年08月23日

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詳細說明

美高森美Microsemi（原Symmetricom）3120A相位噪聲測試探針

相位噪聲測試探針
3120A可以精確測量0.5-30 MHz信號源的相噪和阿倫方差指標，這幾乎覆蓋了所有常用的頻率源。3120需要一個外部參考源和一臺連接3120A的PC機進行測量。此外，客戶還可以通過申請授權碼的形式購買軟件升級選項，分別是AM噪聲選項，信號統計（MDEV，ADEV，TDEV，抖動）選項，頻率計數器選項，波罩測試選項。
全數字架構的3120A使用先進，高速，低噪聲的數模轉換器，不需要鎖相環即可進行測量。配合3120A相噪測試軟件，客戶可以用一種低成本的方法獲取待測信號源的相關指標。
主要特點
操作簡便
測試結果輸出（幾秒內），無需校準
輸入載波信號可以比以前更準確
阿倫方差與相位噪聲測量同時進行
易于使用的軟件界面（基于windows）
包括數字I/O擴展端口和獨立訪問輸入的模數轉換器
基礎模型（HW工具包）
升級選項
AM噪聲選項
信號統計（MDEV，ADEV，TDEV，抖動）選項
頻率計數器選項
波罩測試選項

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北京創宇星通科技有限公司（專業時間頻率、時間同步、授時產品與方案供應商）
地址：北京市海淀區學院南路68號吉安大廈A座502室
聯系人：李繼手機：1 3 7 1 7 6 9 2 0 7 9
QQ：316568005

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